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Impact of Cycling on Random Telegraph Noise in 3-D NAND Flash Arrays
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Reliability of NAND Flash Memories: Planar Cells and Emerging Issues in 3D Devices
Veröffentlicht in Computers (Basel)
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Computing of temporal information in spiking neural networks with ReRAM synapses
Veröffentlicht in Faraday discussions
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Global Profile: Going beyond liking to better understand product experience
Veröffentlicht in Food research international
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Statistical Model for Random Telegraph Noise in Flash Memories
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
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