Suchergebnisse - SKRIPAL ALEKSANDR V | OPAC THWS

1

DEVICE FOR MEASUREMENT OF CHARACTERISTICS OF DIELECTRIC MATERIALS von SKRIPAL ALEKSANDR V, AVDEEV ALEKSANDR A, KOROTIN BORIS N, USANOV DMITRIJ A

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
2

METHOD OF MEASURING AMPLITUDE OF AXIALLY SYMMETRIC OBJECTS von ORLOV VADIM E,SU, EFIMOV VIKTOR P,SU, USANOV DMITRIJ A,SU, LEVIN MIKHAIL N,SU, GRISHIN VASILIJ K,SU, SKRIPAL ALEKSANDR V,SU

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
3

DEVICE FOR MEASURING PARAMETERS OF DIELECTRIC MATERIALS von KOROTIN BORIS N,SU, STRUKOV ANATOLIJ Z,SU, USANOV DMITRIJ A,SU, SVIRSHCHEVSKIJ STANISLAV B,SU, LITSOV ANDREJ A,SU, GRISHIN VASILIJ K,SU, SKRIPAL ALEKSANDR V,SU

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
4

METHOD OF MEASURING RELIEF PATTERN OF MICROOBJECTS von KURENKOVA OLGA N,SU, AVDEEV ALEKSANDR A,SU, SKRIPAL ANATOLIJ V,SU, USANOV DMITRIJ A,SU

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in:
5

METHOD OF MEASURING DEPTH OF DEFECTS ON OBJECT SURFACE von KURENKOVA OLGA N,SU, AVDEEV ALEKSANDR A,SU, SKRIPAL ANATOLIJ V,SU, USANOV DMITRIJ A,SU, TUPIKIN VLADIMIR D,SU

Volltext bestellen

Patent

In die Zwischenablage Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten

Gespeichert in: