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On the Limitations of Silicon for I-MOS Integration
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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Broadband terahertz imaging with highly sensitive silicon CMOS detectors
Veröffentlicht in Optics express
VolltextArtikel -
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Materials and device structures for sub-32 nm CMOS nodes
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
VolltextArtikel -
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