Suchergebnisse - SINGH, Rama N

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Heating of solar filamentary magnetic flux tubes von Dwivedi, R., Singh, R. N.

Veröffentlicht in Current science (Bangalore)

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Pre-Si estimation and compensation of SRAM layout deficiencies to achieve target performance and yield von Bansal, A., Singh, R.N., Mukhopadhyay, S., Geng Han, Fook-Luen Heng, Ching-Te Chuang

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Giant sonic stop bands in 3-D periodic array of liquid balloons von Kushwaha, Manvir S., Singh, Rama N.

Veröffentlicht in The Journal of the Acoustical Society of America

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Design of phase-controlled coatings to correct skew-ray depolarization in LCOS projectors von Rosenbluth, Alan E., Lu, Minhua, Ho, Kenneth, Singh, Rama N., Nakasogi, Teruhiro

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Design of phase-controlled coatings to correct skew-ray depolarization in LCOS projectors: LCos - A Disruptive Microdisplay Technology for Large Screen Displays von ROSENBLUTH, Alan E, MINHUA LU, HO, Kenneth, SINGH, Rama N, NAKASOGI, Teruhiro

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Performance driven layout optimization using morphing of a basis set of representative layouts von SINGH RAMA N, SINGHEE AMITH, BANSAL ADITYA, ACAR EMRAH

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Methodology for image fidelity verification von Graur, Ioana, Lai, Kafai, Singh, Rama N

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Methodology for image fidelity verification von LAI KAFAI, SINGH RAMA N, GRAUR IOANA

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DRC-free high density layout exploration with layout morphing and patterning quality assessment, with application to SRAM von Singhee, A., Acar, E., Younus, M. I., Singh, R. N., Bansal, A.

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METHODOLOGY FOR IMAGE FIDELITY VERIFICATION von LAI KAFAI, SINGH RAMA N, GRAUR IOANA

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Methodology for image fidelity verification von Graur, Ioana, Lai, Kafai, Singh, Rama N

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Analyzing a patterning process using a model of yield von LAI KAFAI, MELVILLE DAVID OSMOND, SINGH RAMA N, TIAN KEHAN, JOSHI RAJIV VASANT, BAGHERI SAEED, ROSENBLUTH ALAN E, MUKHOPADHYAY SAIBAL, HENG FOOK-LUEN

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Method for predicting function of integrated circuit fragment photo-etched on chip von GRAUR IOANA,LAI KAFAI,SINGH RAMA N

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Optimizing integrated circuit chip designs for optical proximity correction von Han, Geng, Heng, Fook-Luen, Lee, Jin Fuw, Singh, Rama N

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Analyzing a patterning process using a model of yield von LAI KAFAI, MELVILLE DAVID OSMOND, SINGH RAMA N, TIAN KEHAN, JOSHI RAJIV VASANT, BAGHERI SAEED, ROSENBLUTH ALAN E, MUKHOPADHYAY SAIBAL, HENG FOOK-LUEN

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ANALYZING A PATTERNING PROCESS USING A MODEL OF YIELD von LAI KAFAI, MELVILLE DAVID OSMOND, SINGH RAMA N, TIAN KEHAN, JOSHI RAJIV VASANT, BAGHERI SAEED, ROSENBLUTH ALAN E, MUKHOPADHYAY SAIBAL, HENG FOOK-LUEN

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Analyzing A Patterning Process Using A Model Of Yield von LAI KAFAI, MELVILLE DAVID OSMOND, SINGH RAMA N, TIAN KEHAN, JOSHI RAJIV VASANT, BAGHERI SAEED, ROSENBLUTH ALAN E, MUKHOPADHYAY SAIBAL, HENG FOOK-LUEN

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METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT CHIP FABRICATION AND PROGRAM PRODUCT THEREFOR von SINGH RAMA N, TIEN CHAO YI, HAN GENG, HENG FOOK-LUEN, LEE JIN FUW

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Pre-Si estimation and compensation of SRAM layout deficiencies to achieve target performance and yield von Bansal, A., Singh, R.N., Mukhopadhyay, S., Geng Han, Fook-Luen Heng, Ching-Te Chuang

Giant sonic stop bands in 3-D periodic array of liquid balloons von Kushwaha, Manvir S., Singh, Rama N.

Design of phase-controlled coatings to correct skew-ray depolarization in LCOS projectors von Rosenbluth, Alan E., Lu, Minhua, Ho, Kenneth, Singh, Rama N., Nakasogi, Teruhiro

Design of phase-controlled coatings to correct skew-ray depolarization in LCOS projectors: LCos - A Disruptive Microdisplay Technology for Large Screen Displays von ROSENBLUTH, Alan E, MINHUA LU, HO, Kenneth, SINGH, Rama N, NAKASOGI, Teruhiro

Performance driven layout optimization using morphing of a basis set of representative layouts von SINGH RAMA N, SINGHEE AMITH, BANSAL ADITYA, ACAR EMRAH

Methodology for image fidelity verification von Graur, Ioana, Lai, Kafai, Singh, Rama N

Methodology for image fidelity verification von LAI KAFAI, SINGH RAMA N, GRAUR IOANA

DRC-free high density layout exploration with layout morphing and patterning quality assessment, with application to SRAM von Singhee, A., Acar, E., Younus, M. I., Singh, R. N., Bansal, A.

METHODOLOGY FOR IMAGE FIDELITY VERIFICATION von LAI KAFAI, SINGH RAMA N, GRAUR IOANA

Methodology for image fidelity verification von Graur, Ioana, Lai, Kafai, Singh, Rama N

Methodology for image fidelity verification von LAI KAFAI, SINGH RAMA N, GRAUR IOANA

METHODOLOGY FOR IMAGE FIDELITY VERIFICATION von LAI KAFAI, SINGH RAMA N, GRAUR IOANA

Analyzing a patterning process using a model of yield von LAI KAFAI, MELVILLE DAVID OSMOND, SINGH RAMA N, TIAN KEHAN, JOSHI RAJIV VASANT, BAGHERI SAEED, ROSENBLUTH ALAN E, MUKHOPADHYAY SAIBAL, HENG FOOK-LUEN

Method for predicting function of integrated circuit fragment photo-etched on chip von GRAUR IOANA,LAI KAFAI,SINGH RAMA N

Optimizing integrated circuit chip designs for optical proximity correction von Han, Geng, Heng, Fook-Luen, Lee, Jin Fuw, Singh, Rama N

Analyzing a patterning process using a model of yield von LAI KAFAI, MELVILLE DAVID OSMOND, SINGH RAMA N, TIAN KEHAN, JOSHI RAJIV VASANT, BAGHERI SAEED, ROSENBLUTH ALAN E, MUKHOPADHYAY SAIBAL, HENG FOOK-LUEN

ANALYZING A PATTERNING PROCESS USING A MODEL OF YIELD von LAI KAFAI, MELVILLE DAVID OSMOND, SINGH RAMA N, TIAN KEHAN, JOSHI RAJIV VASANT, BAGHERI SAEED, ROSENBLUTH ALAN E, MUKHOPADHYAY SAIBAL, HENG FOOK-LUEN

Analyzing A Patterning Process Using A Model Of Yield von LAI KAFAI, MELVILLE DAVID OSMOND, SINGH RAMA N, TIAN KEHAN, JOSHI RAJIV VASANT, BAGHERI SAEED, ROSENBLUTH ALAN E, MUKHOPADHYAY SAIBAL, HENG FOOK-LUEN

METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT CHIP FABRICATION AND PROGRAM PRODUCT THEREFOR von SINGH RAMA N, TIEN CHAO YI, HAN GENG, HENG FOOK-LUEN, LEE JIN FUW

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