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The challenge of signal integrity in deep-submicrometer CMOS technology
Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE
VolltextArtikel -
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Exploration of radiated electromagnetic immunity of integrated circuits up to 40 GHz
Veröffentlicht in Electronics letters
VolltextArtikel -
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Cube probe structures for integrated near-field scanner module
Veröffentlicht in Electronics letters
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