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The optoelectronic response of a laterally contacted 2-D MESFET
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Gate current in complementary HFETs
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Beryllium ion implantation in GaAsSb epilayers on InP
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GaAs IGFET digital integrated circuits
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Photoemission studies on heterostructure bipolar transistors
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Back bias effects on two-dimensional electron gas
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Multiple insulator layers on GaAs studied by Auger analysis
Veröffentlicht in International journal of electronics
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