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1
SCANNING PROBE MICROSCOPE IMAGE AND LASER EXCITATION EMISSION DISTRIBUTION IMAGE MEASURING APPARATUS
von
PAVEL RUTKOVSKI
,
ZHIZHIMONTOV ALEXEI V
,
VOLKOV ALEXEI D
,
IGOR KUDRYASHOV
,
BYKOV VIKTOR A
,
SURUGA MASAJI
,
IKONNIKOV ALEXEI V
,
KAWADA SATOSHI
,
SAUNIN SERGEI A
,
INOUE KOJI
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2
SCANNING PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH AN OBJECT SURFACE MODIFYING DEVICE
von
SOKOLOV, DMITRY YURIEVICH
,
SAUNIN, SERGEI ALEXEEVICH
,
MULLER, MARTIN
,
MATSKO, NADEZHDA BOVISOVNA
,
EFIMOV, ANTON EVGENIEVICH
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3
SCANNING PROBE MICROSCOPE PROVIDED WITH A LIQUID CELL
von
SAUNIN, SERGEI ALEXEEVICH
,
ALEKSEEV, MIKHAIL EVGENIEVICH
,
BYKOV, VIKTOR ALEXANDROVICH
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4
SCANNING PROBING MICROSCOPE COMBINED WITH INVERTED OPTICAL MICROSCOPE
von
ZHIZHIMONTOV, VLADIMIR VADIMOVICH
,
SAUNIN, SERGEI ALEXEEVICH
,
FYURST, LEONID GEORGIEVICH
,
BELYAEV, ALEXEI VLADIMIROVICH
,
BYKOV, VIKTOR ALEXANDROVICH
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Patents
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Schlagworte
Applications Of Scanning-Probe Techniques, E.g. Scanning Probemicroscopy [Spm]
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Measuring
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Physics
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Scanning-Probe Techniques Or Apparatus
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Testing
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Measuring Angles
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Measuring Areas
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3
Measuring Irregularities Of Surfaces Or Contours
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Measuring Length, Thickness Or Similar Lineardimensions
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Investigating Or Analysing Materials By Determining Theirchemical Or Physical Properties
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Von:
Bis:
Quelle
Esp@Cenet
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