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    Influence of Fluorinated Gate Oxides on the Low Frequency Noise of MOS Transistors under Analog Operation

    Influence of Fluorinated Gate Oxides on the Low Frequency Noise of MOS Transistors under Analog Operation von Brederlow, R., Weber, W., Jurk, R., Dahl, C., Kessel, S., Holz, J., Sauert, W., Klein, P., Lemaitre, B., Schmitt-Landsiede, D., Thewes, R.

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    Electronic component having a semiconductor chip

    Electronic component having a semiconductor chip von SCHAUER HEINZ, HERZOG THOMAS, SAUERT WOLFGANG, TILGNER RAINER, ALPERN PETER

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    Electronic component having a semiconductor chip

    Electronic component having a semiconductor chip von Alpern, Peter, Herzog, Thomas, Sauert, Wolfgang, Schauer, Heinz, Tilgner, Rainer

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    Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip und elektronisches Bauteil mit einer Teststruktur auf einem Halbleiterchip sowie Verfahren zu deren Herstellung

    Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip und elektronisches Bauteil mit einer Teststruktur auf einem Halbleiterchip sowie Verfahren zu deren Herstellung von TILGNER, RAINER, SAUERT, WOLFGANG, HERZOG, THOMAS, SCHAUER, HEINZ, ALPERN, PETER

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    Electronic component having a semiconductor chip von SCHAUER HEINZ, HERZOG THOMAS, SAUERT WOLFGANG, TILGNER RAINER, ALPERN PETER

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    Electronic component having a semiconductor chip von Herzog, Thomas, Alpern, Peter, Sauert, Wolfgang, Schauer, Heinz, Tilgner, Rainer

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    Electronic component with a semiconductor chip and optionally a test structure has adhesive regions contacting glass layer

    Electronic component with a semiconductor chip and optionally a test structure has adhesive regions contacting glass layer von TILGNER, RAINER, SAUERT, WOLFGANG, HERZOG, THOMAS, SCHAUER, HEINZ, ALPERN, PETER

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