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SIMS quantification of matrix and impurity species in AlxGa1-xN
Veröffentlicht in Applied surface science
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Optical characterization of Eu-doped β-Ga2O3 thin films
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Veröffentlicht in Applied surface science
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Optical characterization of Eu-doped β - Ga 2 O 3 thin films
Veröffentlicht in Applied physics letters
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