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A 24-GS/s 6-bit R-2R Current-Steering DAC in InP HBT Technology
Veröffentlicht in IEICE Transactions on Electronics
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Feasibility Study of Wafer-Level Backside Process for InP-Based ICs
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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A 24-GS/s 6-bit R-2R Current-Steering DAC in InP HBT Technology
Veröffentlicht in IEICE transactions on electronics
VolltextArtikel -
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