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Growth and electrical properties of AlOx grown by mist chemical vapor deposition
Veröffentlicht in AIP advances
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Voltage-based fault path tracing by transistor operating point analysis
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Evaluation and detection of CMOS-LSI with abnormal IDDQ
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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The Effect of O3 Support for Fabrication of AlOx Thin Film by Mist CVD Technique
Veröffentlicht in Zairyō
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