Treffer
1 - 1
von
1
für Suche '
SAMUEL SHEUNG-LOK
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - SAMUEL SHEUNG-LOK
Treffer
1 - 1
von
1
für Suche '
SAMUEL SHEUNG-LOK
'
, Suchdauer: 0,42s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Apparatus and method for storing interferometric images of scanned defects and for subsequent static analysis of such defects
von
DORUNDO
,
ALAN DAVID
,
LISANKE
,
MICHAEL GERARD
,
TAHERI
,
ALI REZA
,
PENA
,
LANPHUONG THI
,
LU
,
HUIZONG
,
WATTS
,
KENNETH WAYNE
,
SO
,
SAMUEL SHEUNG-LOK
,
WHITAKER
,
DARELL SMITH
,
BOU-GHANNAM
,
AKRAM AREF
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Online Resources
1 Treffer
1
Format
Patents
1 Treffer
1
Schlagworte
Investigating Or Analysing Materials By Determining Theirchemical Or Physical Properties
1 Treffer
1
Measuring
1 Treffer
1
Physics
1 Treffer
1
Testing
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Esp@Cenet
1 Treffer
1