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Stability of IZO and a-Si:H TFTs Processed at Low Temperature (200 ^} )
Veröffentlicht in Journal of display technology
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Effect of Mechanical and Electromechanical Stress on a-ZIO TFTs
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Flexible amorphous-silicon non-volatile memory
Veröffentlicht in Journal of the Society for Information Display
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Threshold-voltage recovery of a-Si:H digital circuits
Veröffentlicht in Journal of the Society for Information Display
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Noise-margin analysis of a-Si:H digital circuits
Veröffentlicht in Journal of the Society for Information Display
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