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Nanometer scale electron beam lithography in inorganic materials
Veröffentlicht in Applied physics letters
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The silicon {113} surface as a test for surface-energy calculations
Veröffentlicht in Philosophical magazine letters
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Defects in annealed Czochralski Silicon
Veröffentlicht in Physica status solidi. A, Applied research
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Defects in implanted and Czochralski silicon
Veröffentlicht in Crystal research and technology (1979)
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Weak-Beam Contrast from Stacking Faults in Silicon
Veröffentlicht in Physica status solidi. A, Applied research
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Defects in annealed Czochralski Silicon
Veröffentlicht in Physica status solidi. A, Applied research
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