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1
Parametric DFM Solution for Analog Circuits: Electrical-Driven Hotspot Detection, Analysis, and Correction Flow
von
Eissa, H.
,
Salem, R. F.
,
Arafa, A.
,
Hany, S.
,
El-Mously, A.
,
Dessouky, M.
,
Nairn, D.
,
Anis, M.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
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Artikel
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2
Electrical Design for Manufacturability Solutions: Fast Systematic Variation Analysis and Design Enhancement Techniques
von
Salem, Rami Fathy Amin Gomaa
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Dissertation
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3
VISIBLE ALIGNMENT MARKERS/LANDMARKS FOR CAD-TO-SILICON BACKSIDE IMAGE ALIGNMENT
von
ALSTON, Michael Duane
,
RANGANATHAN, Lavakumar
,
MALABRY, Mickael Sebastien Alain
,
BUNNALIM, Hadi
,
SALEM, Rami Fathy Amin Gomaa
,
ENDRINAL, Lesly Zaren Venturina
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Patent
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4
VISIBLE ALIGNMENT MARKERS/LANDMARKS FOR CAD-TO-SILICON BACKSIDE IMAGE ALIGNMENT
von
ALSTON, Michael Duane
,
RANGANATHAN, Lavakumar
,
MALABRY, Mickael Sebastien Alain
,
BUNNALIM, Hadi
,
SALEM, Rami Fathy Amin Gomaa
,
ENDRINAL, Lesly Zaren Venturina
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Patent
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5
VISIBLE ALIGNMENT MARKERS/LANDMARKS FOR CAD-TO-SILICON BACKSIDE IMAGE ALIGNMENT
von
ALSTON, Michael Duane
,
RANGANATHAN, Lavakumar
,
MALABRY, Mickael Sebastien Alain
,
BUNNALIM, Hadi
,
SALEM, Rami Fathy Amin Gomaa
,
ENDRINAL, Lesly Zaren Venturina
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Patent
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6
VISIBLE ALIGNMENT MARKERS/LANDMARKS FOR CAD-TO-SILICON BACKSIDE IMAGE ALIGNMENT
von
ALSTON, Michael Duane
,
RANGANATHAN, Lavakumar
,
MALABRY, Mickael Sebastien Alain
,
BUNNALIM, Hadi
,
SALEM, Rami Fathy Amin Gomaa
,
ENDRINAL, Lesly Zaren Venturina
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Patent
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7
Visible alignment markers/landmarks for CAD-to-silicon backside image alignment
von
Alston, Michael Duane
,
Endrinal, Lesly Zaren Venturina
,
Ranganathan, Lavakumar
,
Salem, Rami Fathy Amin Gomaa
,
Malabry, Mickael Sebastien Alain
,
Bunnalim, Hadi
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Patent
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8
Visible alignment markers/landmarks for cad-to-silicon backside image alignment
von
BUNNALIM, HADI
,
SALEM, RAMI FATHY AMIN GOMAA
,
ENDRINAL, LESLY ZAREN VENTURINA
,
MALABRY, MICKAEL SEBASTIEN ALAIN
,
RANGANATHAN, LAVAKUMAR
,
ALSTON, MICHAEL DUANE
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Patent
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9
Parameter matching hotspot detection
von
SALEM RAMI FATHY
,
EISSA HAITHAM MOHAMAD ABD ELHAMID
,
SELIM MOHAMED AL-IMAM MOHAMED
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Patent
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10
VISIBLE ALIGNMENT MARKERS/LANDMARKS FOR CAD-TO-SILICON BACKSIDE IMAGE ALIGNMENT
von
MALABRY MICKAEL SEBASTIEN ALAIN
,
BUNNALIM HADI
,
ENDRINAL LESLY ZAREN VENTURINA
,
SALEM RAMI FATHY AMIN GOMAA
,
ALSTON MICHAEL DUANE
,
RANGANATHAN LAVAKUMAR
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Patent
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11
Electrical hotspot detection, analysis and correction
von
DESSOUKY MOHAMED AMIN
,
MOHAMED WALID FAROUK
,
EISSA HAITHAM MOHAMED
,
MOUSA SHERIF HANY
,
SALEM RAMI FATHY
,
ARAFA AHMED
,
ELMOUSLY ABDELRAHMAN
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Patent
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12
Parameter Matching Hotspot Detection
von
SALEM RAMI FATHY
,
EISSA HAITHAM MOHAMAD ABD ELHAMID
,
SELIM MOHAMED AL-IMAM MOHAMED
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Patent
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13
Electrical Hotspot Detection, Analysis And Correction
von
DESSOUKY MOHAMED AMIN
,
MOHAMED WALID FAROUK
,
EISSA HAITHAM MOHAMED
,
MOUSA SHERIF HANY
,
SALEM RAMI FATHY
,
ARAFA AHMED
,
ELMOUSLY ABDELRAHMAN
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Patent
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14
Visible alignment markers/landmarks for CAD-to-silicon backside image alignment
von
BUNNALIM, HADI
,
SALEM, RAMI FATHY AMIN GOMAA
,
ENDRINAL, LESLY ZAREN VENTURINA
,
MALABRY, MICKAEL SEBASTIEN ALAIN
,
RANGANATHAN, LAVAKUMAR
,
ALSTON, MICHAEL DUANE
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Patent
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15
Comparison Between Fast-Track and Conventional Anesthesia for Children Undergoing Closure of Ventricular Septal Defects: A Systematic Review and Meta-Analysis
von
Nasif, Mohamad Nour
,
Alibrahim, Hidar
,
Hassan, Noheir Ashraf Ibrahem Fathy
,
Dashan, Sedra
,
Haj Saleh, Heba
,
Jabban, Yazan Khair Eldien
,
Soliman, Rami
,
Mohamed, Waleed Farouk
,
Gabr, Ihab Gebaly Mohammed
,
Osman, Ahmed Bahaa Salem Ali
,
Nader, Simon
,
AbuShady, Reham
,
Boktor, Ashraf N B
,
Nair, Nivedita
,
Alhanafy, Marwa Mohamed
,
Rashid, Asrar
Veröffentlicht in
Curēus (Palo Alto, CA)
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