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The nature of thermoacceptors in electron-irradiated high-resistance silicon
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XPS study of fresh and oxidized GeTe and (Ge,Sn)Te surface
Veröffentlicht in Solid state ionics
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Development of a Focusing Device for Neutron Control in Nuclear Energetics
Veröffentlicht in Atomic energy (New York, N.Y.)
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XPS study of SnTe(1 0 0) oxidation by molecular oxygen
Veröffentlicht in Surface science
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Measurement of lifetime of nonequilibrium charge carriers in single-crystal silicon
Veröffentlicht in Inorganic materials
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The oxidation of PbTe(100) surface in dry oxygen
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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On the origin of ferromagnetism in semiconducting TiO2−δ:Co oxide
Veröffentlicht in JETP letters
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Reference samples of the silicon single crystalls free carrier recombination lifetime
Veröffentlicht in Стандартные образцы
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XPS study of fresh and oxidized (Pb,Ge)Te surfaces
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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