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Optical Properties of Ferroelectric Films HfxZryO2 and La:HfxZryO2 according to Ellipsometry Data
von
Kruchinin, V. N.
,
Spesivtsev, E. V.
,
Rykhlitsky, C. V.
,
Gritsenko, V. A.
,
Mehmood, F.
,
Mikolajick, T.
,
Schroeder, U.
Veröffentlicht in
Optics and spectroscopy
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