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On the Electrostatic Discharge Robustness of Graphene
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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ESD protection solutions for high voltage technologies
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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A Drain-Extended MOS Device With Spreading Filament Under ESD Stress
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
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SCR operation mode of diode strings for ESD protection
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
VolltextArtikel -
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