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1
Reliability Assessment for Trust Integrated Circuit Al Interconnections at Elevated Temperatures
von
Afanasiev, Michael S.
,
Bespalov, Alexey V.
,
Geraskin, Andrey A.
,
Golykova, Olga L.
,
Kulikov, Dmitry V.
,
Muravyeva, Alexandra A.
,
Smirnov, Dmitry O.
,
Kharitonov, Igor A.
,
Shabardin, Ruslan S.
Veröffentlicht in
Bezopasnostʹ informat͡s︡ionnykh tekhnologiĭ
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Features of Developing Silicon-Germanium Frequency Converters, Including an Integrated PLL Synthesizer
von
Igor I., Mukhin
,
Mikhail S., Bychkov
,
Leonid P., Ionov
,
Ruslan S., Shabardin
Veröffentlicht in
Nanoindustry Russia
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