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    A built-in self-test and self-diagnosis scheme for heterogeneous SRAM clusters

    A built-in self-test and self-diagnosis scheme for heterogeneous SRAM clusters von Chih-Wea Wang, Ruey-Shing Tzeng, Chi-Feng Wu, Chih-Tsun Huang, Cheng-Wen Wu, Shi-Yu Huang, Shyh-Horng Lin, Hsin-Po Wang


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    Diagnostic Data Compression Techniques for Embedded Memories with Built-In Self-Test

    Diagnostic Data Compression Techniques for Embedded Memories with Built-In Self-Test von Li, Jin-fu, Tzeng, Ruey-shing, Wu, Cheng-wen

    Veröffentlicht in Journal of electronic testing

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    Testing and Diagnosis Methodologies for Embedded Content Addressable Memories

    Testing and Diagnosis Methodologies for Embedded Content Addressable Memories von Li, Jin-fu, Tzeng, Ruey-shing, Wu, Cheng-wen

    Veröffentlicht in Journal of electronic testing

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    Testing and diagnosing embedded content addressable memories

    Testing and diagnosing embedded content addressable memories von Jin-Fu Li, Ruey-Shing Tzeng, Cheng-Wen Wu

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    Using syndrome compression for memory built-in self-diagnosis

    Using syndrome compression for memory built-in self-diagnosis von Jin-Fu Li, Ruey-Shing Tzeng, Cheng-Wen Wu


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