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Development of Al-based multilayer optics for EUV
Veröffentlicht in Applied physics. A, Materials science & processing
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Study of normal incidence of three-component multilayer mirrors in the range 20-40 nm
Veröffentlicht in Applied Optics
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Non-destructive X-ray study of the interphases in Mo/Si and Mo/B4C/Si/B4C multilayers
Veröffentlicht in Thin solid films
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