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    Strain relaxation mechanism for hydrogen-implanted Si1−xGex/Si(100) heterostructures von Trinkaus, H., Holländer, B., Rongen, St, Mantl, S., Herzog, H.-J., Kuchenbecker, J., Hackbarth, T.

    Veröffentlicht in Applied physics letters

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    NT5E Mutations and Arterial Calcifications

    NT5E Mutations and Arterial Calcifications von Riksen, Niels P, Rongen, Gerard A


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    On the mechanism of dielectric breakdown of ceramic for HV capacitors

    On the mechanism of dielectric breakdown of ceramic for HV capacitors von Wan Rongen, Chen Shoutian

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