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130nm Single Event Upset Performance Evaluation: Commercial vs. Hardened by Design Architectures
von
Dumitru, R.
,
Hafer, C.
,
Tzu-Wen Wu
,
Rominger, R.
,
Milliken, P.
,
Bruno, K.
,
Farris, T.
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Radiation Hardness Characterization of a 130nm ASIC Library Technology
von
Dumitru, Radu
,
Hafer, Craig
,
Tzu-Wen Wu
,
Rominger, Rob
,
Gardner, Harry
,
Milliken, Peter
,
Bruno, Kevin
,
Farris, Teresa
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Single Event Effects of commercial and Hardened by design SRAM
von
Milliken, P.
,
Dumitru, R.
,
Hafer, C.
,
Tzu-Wen Wu
,
Rominger, R.
,
Bruno, K.
,
Farris, T.
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Buchbesprechungen
von
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Lehnartz
,
Flury
,
Gerbis
,
Hamperl
,
Rudder
,
Merten
,
Rominger
,
Guggisberg
,
Jaschke
,
Schröder, Rob
Veröffentlicht in
Klinische Wochenschrift
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Artikel
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Ieee Power & Energy Library
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Ieee Electronic Library (Iel)
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3
Springerlink Journals - Autoholdings
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