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    State testing of measuring equipment

    State testing of measuring equipment von Zheludkov, V. N., Kopelevich, N. M., Roizin, O. B.

    Veröffentlicht in Measurement techniques

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    Zero-cost MTP high density NVM modules in a CMOS process flow von Atrash, A, Cassuto, G, Chen, W, Dayan, V, Galzur, O, Gutman, M, Heiman, A, Hunsinger, G, Nahmad, D, Parag, A, Pikhay, E, Roizin, Y, Smith, B, Strum, A, Tishbi, T, Teggatz, R


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