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Selective activation of failure mechanisms in packaged double-heterostructure light emitting diodes using controlled neutron energy irradiation
von
Deshayes, Yannick
,
Bord, Isabelle
,
Barreau, Gérard
,
Aiche, Mourad
,
Moretto, Philippe
,
Béchou, Laurent
,
Roherig, A.C.
,
Ousten, Yves
Veröffentlicht in
Microelectronics and reliability
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