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    Efficient sampling for three-dimensional atom probe microscopy data

    Efficient sampling for three-dimensional atom probe microscopy data von Hellman, Olof C., Rivage, John Blatz du, Seidman, David N.

    Veröffentlicht in Ultramicroscopy

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    Application software for data analysis for three-dimensional atom probe microscopy

    Application software for data analysis for three-dimensional atom probe microscopy von Hellman, Olof, Vandenbroucke, Justin, Blatz du Rivage, John, Seidman, David N


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