-
1
-
2
-
3
Laser-assisted atom probe tomography of c-plane and m-plane InGaN test structures
Veröffentlicht in arXiv.org
VolltextArtikel -
4
-
5
-
6
Threading defect elimination in GaN nanowires
Veröffentlicht in Journal of materials research
VolltextArtikel -
7
-
8
-
9
Advanced Scanning Probe Nanolithography Using GaN Nanowires
Veröffentlicht in Nano letters
VolltextArtikel -
10
-
11
-
12
-
13
-
14
-
15
-
16
-
17
Semipolar InGaN/GaN nanostructure light-emitting diodes on c-plane sapphire
Veröffentlicht in Applied physics express
VolltextArtikel -
18
-
19
-
20