Treffer
1 - 5
von
5
für Suche '
Rhee, Hyongmoo
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - Rhee, Hyongmoo
Treffer
1 - 5
von
5
für Suche '
Rhee, Hyongmoo
'
, Suchdauer: 0,51s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Development of an alkali-metal-free bath for electroless deposition of Co-W-P capping layers for copper interconnections
von
Dulal, S.M.S.I.
,
Kim, Tae Ho
,
Rhee, Hyongmoo
,
Sung, Joon Yong
,
Kim, Chang-Koo
Veröffentlicht in
Journal of alloys and compounds
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
Comparison of deep silicon etching using SF6/C4F8 and SF6/C4F6 plasmas in the Bosch process
von
Rhee, Hyongmoo
,
Kwon, Hyeokkyu
,
Kim, Chang-Koo
,
Kim, HyunJung
,
Yoo, Jaisuk
,
Kim, Yil Wook
Veröffentlicht in
Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
3
Dependence of etch rates of silicon substrates on the use of C4F8 and C4F6 plasmas in the deposition step of the Bosch process
von
Rhee, Hyongmoo
,
Lee, Hae Min
,
Namkoung, Yun Mi
,
Kim, Chang-Koo
,
Chae, Heeyeop
,
Kim, Yil Wook
Veröffentlicht in
Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
4
Dependence of etch rates of silicon substrates on the use of C 4 F 8 and C 4 F 6 plasmas in the deposition step of the Bosch process
von
Rhee, Hyongmoo
,
Lee, Hae Min
,
Namkoung, Yun Mi
,
Kim, Chang-Koo
,
Chae, Heeyeop
,
Kim, Yil Wook
Veröffentlicht in
Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
5
Comparison of deep silicon etching using SF 6 / C 4 F 8 and SF 6 / C 4 F 6 plasmas in the Bosch process
von
Rhee, Hyongmoo
,
Kwon, Hyeokkyu
,
Kim, Chang-Koo
,
Kim, HyunJung
,
Yoo, Jaisuk
,
Kim, Yil Wook
Veröffentlicht in
Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena
Volltext
Artikel
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Peer Reviewed
1 Treffer
1
Online Resources
5 Treffer
5
Format
Articles
5 Treffer
5
Zeitschriftentitel
Journal Of Vacuum Science & Technology. B, Microelectronics And Nanometer Structures Processing, Measurement And Phenomena
4 Treffer
4
Journal Of Alloys And Compounds
1 Treffer
1
Journal Of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics And Nanometer Structures Processing, Measurement, And Phenomena
1 Treffer
1
Schlagworte
Physical Sciences
3 Treffer
3
Physics
3 Treffer
3
Science & Technology
3 Treffer
3
Technology
3 Treffer
3
Engineering
2 Treffer
2
Engineering, Electrical & Electronic
2 Treffer
2
Nanoscience & Nanotechnology
2 Treffer
2
Physics, Applied
2 Treffer
2
Science & Technology - Other Topics
2 Treffer
2
Capping Layers
1 Treffer
1
Chemistry
1 Treffer
1
Chemistry, Physical
1 Treffer
1
Co-W-P Thin Films
1 Treffer
1
Cross-Disciplinary Physics: Materials Science; Rheology
1 Treffer
1
Electrodeposition, Electroplating
1 Treffer
1
Electroless Deposition
1 Treffer
1
Exact Sciences And Technology
1 Treffer
1
Materials Science
1 Treffer
1
Materials Science, Multidisciplinary
1 Treffer
1
Metallurgy & Metallurgical Engineering
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Aip Digital Archive
4 Treffer
4
Aip Journals Complete
4 Treffer
4
Ingentaconnect
1 Treffer
1
Access Via Sciencedirect (Elsevier)
1 Treffer
1
Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
1 Treffer
1