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    Spatial resolution analysis of micron resolution silicon pixel detectors based on beam and laser tests

    Spatial resolution analysis of micron resolution silicon pixel detectors based on beam and laser tests von Andricek, Ladislav, Doležal, Zdeněk, Drásal, Zbyněk, Fischer, Peter, Kodyš, Peter, Kohrs, Robert, Kvasnička, Peter, Mariñas, Carlos, Reuen, Lars, Rummel, Stefan, Schmieden, Kristof, Velthuis, Jaap J., Vos, Marcel


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    Analysis of pixel systematics and space point reconstruction with DEPFET PXD5 matrices using high energy beam test data

    Analysis of pixel systematics and space point reconstruction with DEPFET PXD5 matrices using high energy beam test data von Reuen, Lars

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