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Structural Characterization of BiFeO 3 Thin Films by Reciprocal Space Mapping
von
Saito, Keisuke
,
Ulyanenkov, Alexander
,
Grossmann, Volkmar
,
Ress, Heiko
,
Bruegemann, Lutz
,
Ohta, Hideo
,
Kurosawa, Toshiyuki
,
Ueki, Sadao
,
Funakubo, Hiroshi
Veröffentlicht in
Japanese Journal of Applied Physics
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Virtual two-dimensional detector
von
RESS HEIKO
,
BRUEGEMANN LUTZ
,
PRECKWINKEL UWE
,
HELMING KURT
,
GERNDT EKKEHARD
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Investigating Or Analysing Materials By Determining Theirchemical Or Physical Properties
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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