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Suchergebnisse - Remersaro, Santiago
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Preferred Fill: A Scalable Method to Reduce Capture Power for Scan Based Designs
von
Remersaro, S.
,
Lin, X.
,
Zhang, Z.
,
Reddy, S.M.
,
Pomeranz, I.
,
Rajski, J.
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Method and apparatus for concurrent inter-test response compaction and diagnosis
von
Remersaro, Santiago
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Low Shift and Capture Power Scan Tests
von
Remersaro, S.
,
Xijiang Lin
,
Reddy, S.M.
,
Pomeranz, I.
,
Rajski, J.
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A scalable method for the generation of small test sets
von
Remersaro, S.
,
Rajski, J.
,
Reddy, S.M.
,
Pomeranz, I.
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5
ATPG Heuristics Dependant Observation Point Insertion for Enhanced Compaction and Data Volume Reduction
von
Remersaro, S.
,
Rajski, J.
,
Rinderknecht, T.
,
Reddy, S.M.
,
Pomeranz, I.
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6
Scan-Based Tests with Low Switching Activity
von
Remersaro, S.
,
Xijiang Lin
,
Reddy, S.M.
,
Pomeranz, I.
,
Rajski, J.
Veröffentlicht in
IEEE design & test of computers
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