Suchergebnisse - Rehbach, Werner P. | OPAC THWS

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High-Spatial-Resolution Low-Energy Electron Beam X-Ray Microanalysis von Barkshire, Ian, Karduck, Peter, Rehbach, Werner P., Richter, Silvia

Veröffentlicht in Mikrochimica acta (1966)

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2

Application of EDM Hole-Drilling Method to the Measurement of Residual Stress in Tool and Carbon Steels von Lee, Hwa-Teng, Mayer, Joachim, Hsu, Fu-Chuan, Rehbach, Werner P., Weirich, Thomas, Dimyati, Arbi, Tai, Tzu-Yao

Veröffentlicht in Journal of engineering materials and technology

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3

The study of EDM hole-drilling method for measuring residual stress in SKD11 tool steel von Lee, Hwa-Teng, Rehbach, Werner P., Hsu, Fu-Chuan, Tai, Tzu-Yao, Hsu, Edward

Veröffentlicht in Journal of materials processing technology

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4

The improved optoelectronic characterization in annealed Al/AZO layer after sputtering von Wen-Kuan Lin, Yi-Chuan Wang, Wei-Che Huang, Ze-Syue Wu, Ci-Sheng Cai, Yen-Sheng Lin, Rehbach, Werner P.

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Tagungsbericht

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5

Background Anomalies in Electron Probe Microanalysis Caused by Total Reflection von Rehbach, Werner P., Karduck, Peter

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Buchkapitel

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