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Suchergebnisse - Reath, Mark L
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1
Characterization and real time fault detection of vacuum leaks in plasma nitridation tools
von
Shepard, Joseph F.
,
Reath, Mark L.
,
Wilson, James K.
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Tagungsbericht
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2
Manufacturing management using tool operating data
von
BARKER BRIAN C
,
WONG JUSTIN W
,
KLEINHENZ RICHARD L
,
REATH MARK L
,
HIGGINS EDWARD P
,
MOORE GARY R
,
ZISGEN HORST
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3
METHOD OF SYSTEM MAINTENANCE PLANNING BASED ON CONTINUAL ROBOT PARAMETER MONITORING
von
STRIPPE DAVID C
,
JOHNSON GARY J
,
REATH MARK L
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4
Manufacturing Management Using Tool Operating Data
von
BARKER BRIAN C
,
WONG JUSTIN W
,
KLEINHENZ RICHARD L
,
REATH MARK L
,
HIGGINS EDWARD P
,
MOORE GARY R
,
ZISGEN HORST
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5
METHOD AND APPARATUS FOR REAL TIME FAULT DETECTION IN HIGH SPEED SEMICONDUCTOR PROCESSES
von
WONG JUSTIN W
,
PASSOW MICHAEL L
,
REATH MARK L
,
KOLAR HARRY R
,
CATLETT STEVEN
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6
In situ monitoring of wafer charge distribution in plasma processing
von
Boyd, Kevin M
,
Gallo, James A
,
Higgins, Edward P
,
Reath, Mark L
,
Shiffler, Barbara L
,
Wong, Justin
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7
In situ monitoring of wafer charge distribution in plasma processing
von
SHIFFLER BARBARA L
,
WONG JUSTIN
,
REATH MARK L
,
HIGGINS EDWARD P
,
GALLO JAMES A
,
BOYD KEVIN M
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8
IN SITU MONITORING OF WAFER CHARGE DISTRIBUTION IN PLASMA PROCESSING
von
SHIFFLER BARBARA L
,
WONG JUSTIN
,
REATH MARK L
,
HIGGINS EDWARD P
,
GALLO JAMES A
,
BOYD KEVIN M
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In-situ monitoring of chemical vapor deposition process by mass spectrometry
von
RICE MICHAEL B
,
BALLANTINE ARNE W
,
BAKER JOHN M
,
REATH MARK L
,
ARMBRUST DOUGLAS S
,
DIMILIA DOREEN D
,
CHEEK ROGER W
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10
In-situ monitoring of chemical vapor deposition process by mass spectrometry
von
Armbrust, Douglas S
,
Baker, John M
,
Ballantine, Arne W
,
Cheek, Roger W
,
DiMilia, Doreen D
,
Reath, Mark L
,
Rice, Michael B
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Patent
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11
Method and device for managing a manufacturing environment using tool operating data
von
BARKER BRIAN C
,
WONG JUSTIN W
,
KLEINHENZ RICHARD L
,
REATH MARK L
,
HIGGINS EDWARD P
,
MOORE GARY R
,
ZISGEN HORST
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Patent
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12
In-situ monitoring of chemical vapor deposition process by mass spectrometry
von
RICE MICHAEL B
,
BALLANTINE ARNE W
,
BAKER JOHN M
,
REATH MARK L
,
ARMBRUST DOUGLAS S
,
DIMILIA DOREEN D
,
CHEEK ROGER W
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Basic Electric Elements
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Climate Change Mitigation Technologies In The Production Orprocessing Of Goods
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Electric Solid State Devices Not Otherwise Provided For
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Electricity
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General Tagging Of Cross-Sectional Technologies Spanning Over Several Sections Of The Ipc
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Coating Metallic Material
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Electric Digital Data Processing
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Inhibiting Corrosion Of Metallic Material Or Incrustation Ingeneral
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Bis:
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Esp@Cenet
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Uspto Issued Patents
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Ieee Power & Energy Library
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Ieee Electronic Library (Iel)
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