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Statistical Measurements of PMOS Subthreshold Current for 1.3 to 0.5 Micron Channel Lengths
von
d'Ouville, T. Ternisien
,
Basset, R.
,
Amm, D.T.
,
Ravezzani, S.
,
Delpech, P.
,
Moi, D.
,
Paoli, M.
,
Minghetti, B.
,
Mingam, H.
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Procédé de satinage à sec de surfaces de plaques et similaires
von
RAVEZZANI GIORGIO
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Esp@Cenet
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Ieee Electronic Library (Iel)
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