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Suchergebnisse - Rathgeb, Dominik
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Sensor und damit ausgestattete Arbeitsvorrichtung
von
Rathgeb, Dominik
,
Grabert, Falk
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Patent
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Sensoranordnung und Verfahren zum Betreiben einer Sensoranordnung
von
RATHGEB, DOMINIK
,
RIEDER, WOLFGANG
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Initialisierungsverfahren für einen Positionssensor und Positionssensor
von
Bohm, Holger
,
Rathgeb, Dominik
,
Rieder, Wolfgang
,
Mytnik, Evgeniy
,
Welker, Florian
,
Heineck, Torsten
,
Maier, Thomas
,
Kliche, Kurt
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Patent
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4
GANDiffFace: Controllable Generation of Synthetic Datasets for Face Recognition with Realistic Variations
von
Melzi, Pietro
,
Rathgeb, Christian
,
Tolosana, Ruben
,
Vera-Rodriguez, Ruben
,
Lawatsch, Dominik
,
Domin, Florian
,
Schaubert, Maxim
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5
Can point-cloud based neural networks learn fingerprint variability?
von
Sollinger, Dominik
,
Jochl, Robert
,
Kirchgasser, Simon
,
Uhl, Andreas
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Tagungsbericht
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6
Synthetic Data for the Mitigation of Demographic Biases in Face Recognition
von
Melzi, Pietro
,
Rathgeb, Christian
,
Tolosana, Ruben
,
Vera-Rodriguez, Ruben
,
Morales, Aythami
,
Lawatsch, Dominik
,
Domin, Florian
,
Schaubert, Maxim
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7
GANDiffFace: Controllable Generation of Synthetic Datasets for Face Recognition with Realistic Variations
von
Melzi, Pietro
,
Rathgeb, Christian
,
Tolosana, Ruben
,
Vera-Rodriguez, Ruben
,
Lawatsch, Dominik
,
Domin, Florian
,
Schaubert, Maxim
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Synthetic Data for the Mitigation of Demographic Biases in Face Recognition
von
Melzi, Pietro
,
Rathgeb, Christian
,
Tolosana, Ruben
,
Vera-Rodriguez, Ruben
,
Morales, Aythami
,
Lawatsch, Dominik
,
Domin, Florian
,
Schaubert, Maxim
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arXiv.org
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Arxiv
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Schlagworte
Arrangements For Measuring Two Or More Variables Not Coveredin A Single Other Subclass
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3
Datasets
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3
Measuring
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3
Measuring Not Specially Adapted For A Specific Variable
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3
Measuring Or Testing Not Otherwise Provided For
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3
Physics
3 Treffer
3
Tariff Metering Apparatus
3 Treffer
3
Testing
3 Treffer
3
Computer Science - Computer Vision And Pattern Recognition
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Controllability
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Demographics
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Face Recognition
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Measuring Areas
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Measuring Irregularities Of Surfaces Or Contours
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Measuring Length, Thickness Or Similar Lineardimensions
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Synthetic Data
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Aging
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Bias
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Biometric Recognition Systems
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Erscheinungsjahr
Von:
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Quelle
Esp@Cenet
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Proquest Central (Alumni)
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Proquest Central Uk/Ireland
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Proquest Central Essentials
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Proquest Central
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Proquest One Community College
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Proquest Central Korea
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Freely Accessible Journals
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Arxiv.org
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Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Ieee Power & Energy Library
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Elektronische Zeitschriftenbibliothek - Frei Zugängliche E-Journals
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Ieee Electronic Library (Iel)
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