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Letters to the Editor
von
Bereznicki, Luke R
,
Jackson, Shane L
,
Peterson, Gregory M
,
Khan, Sohail A
,
Rao, Padma GM
,
Rao, BH Anand
,
Singh, Dharam
,
Bedi, TRS
,
Koju, Rajendra
,
Adhikari, Omprakash
,
Alam, Kadir
,
Khan, GM
,
Palaian, Subish
,
Clifford, Rhonda M
,
Gilbar, Peter
Veröffentlicht in
Journal of pharmacy practice and research
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von
Bereznicki, Luke R
,
Jackson, Shane L
,
Peterson, Gregory M
,
Khan, Sohail A
,
Rao, Padma GM
,
Rao, BH Anand
,
Singh, Dharam
,
Bedi, TRS
,
Koju, Rajendra
,
Adhikari, Omprakash
,
Alam, Kadir
,
Khan, GM
,
Palaian, Subish
,
Clifford, Rhonda M
,
Gilbar, Peter
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3
The impact of high-κ gate dielectrics and metal gate electrodes on sub-100 nm MOSFETs
von
Cheng, B.
,
Cao, M.
,
Rao, R.
,
Inani, A.
,
Vande Voorde, P.
,
Greene, W.M.
,
Stork, J.M.C.
,
Zhiping Yu
,
Zeitzoff, P.M.
,
Woo, J.C.S.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on electron devices
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4
Gate Stack Architecture Analysis and Channel Engineering in Deep Sub-Micron MOSFETs
von
Inani, Anand
,
Rao, Ramgopal Valipe
,
Cheng, Baohong
,
Woo, Jason
Veröffentlicht in
Japanese Journal of Applied Physics
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Japanese Journal Of Applied Physics
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Japanese Journal Of Applied Physics Part 1-Regular Papers Short Notes & Review Papers
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Japanese Journal Of Applied Physics, Part 1: Regular Papers And Short Notes And Review Papers
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Japanese Journal Of Applied Physics. Part. 1, Regular Papers, Brief Communications & Review Papers
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Engineering, Electrical & Electronic
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Gates
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High-K Gate Dielectrics
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Performance Degradation
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Stacks
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Super-Steep Retrograde Channel Profile
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Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Wiley Journals
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Journals@Ovid Complete
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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Ieee Power & Energy Library
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Iopscience Extra
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Ieee Electronic Library (Iel)
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Ingentaconnect
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