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    A Large Scale Characterization of Device Uptimes

    A Large Scale Characterization of Device Uptimes von Nogueira, Mateus, Ferreira, Erica, Boechat, Pedro, Assis, Felipe, Rabello, Estevao, Nascimento, Rafael, Menasche, Daniel Sadoc, Xexeo, Geraldo, Ramchandran, Abhishek, Wolter, Katinka


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