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    Quality control of mass-produced GEM detectors for the CMS GE1/1 muon upgrade von Abbas, M., Abbrescia, M., Abdalla, H., AbuZeid, S., Ahmad, A., Aimè, C., Aruta, C., Asghar, I., Aspell, P., Babbar, J., Ban, Y., Band, R., Bansal, S., Benussi, L., Beyrouthy, T., Bhatnagar, V., Bianco, M., Bianco, S., Black, K., Bouhali, O., Braibant, S., Calzaferri, S., Cassese, F., Cavallo, N., Colafranceschi, S., De Iorio, A., De Lentdecker, G., Olio, D. Dell, Dharmaratna, W., Dildick, S., Erbacher, R., Fabozzi, F., Fallavollita, F., Ferraro, A., Franco, M., Gigli, S., Gilmore, J., Gola, M., Gruchala, M., Gutierrez, A., Hauser, J., Hohlmann, M., Huang, T., Irshad, A., Jaramillo, J., Juodagalvis, A., Juska, E., Kang, Y., Kaur, H., Keller, H., Kim, H., Ko, B., Kumar, A., Kumar, S., Lacalamita, N., Lee, J.S.H., Levin, A., Li, Q., Licciulli, F., Lista, L., Loddo, F., Luhach, M., Maggi, M., Martiradonna, S., McLean, C., Merlin, J., Moureaux, L., Naimuddin, M., Oliveira, R., Paolucci, P., Park, I.C., Peck, A., Perera, N., Petre, L., Petrow, H., Ramirez, F., Riccardi, C., Romano, E., Ruiz, J.D., Saviano, G., Sharma, A., Sharma, R., Shopova, M., Simone, F.M., Stamerra, A., Starling, E., Sturdy, J., Teague, D., Teyssier, D., Tytgat, M., Vai, I., Wang, K., Wickramage, N., Wickramarathna, D.D.C., Yang, S., Yang, U., Yang, Y., Yongho, J., You, Z., Zaleski, S.


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  20. 20