Suchergebnisse - ROY CHARLES IGGULDEN | OPAC THWS

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Capacitive monitors for detecting metal extrusion during electromigration von AHSAN ISHTIAQ, KIEWRA EDWARD WILLIAM, IGGULDEN ROY CHARLES, WANG PINGUAN, FILIPPI RONALD GENE

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Capacitive monitors for detecting metal extrusion during electromigration von Ahsan, Ishtiaq, Filippi, Ronald Gene, Iggulden, Roy Charles, Kiewra, Edward William, Wang, Ping-Chuan

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3

Dual-rie structure for via/line interconnections von Feild, Christopher Adam, Iggulden, Roy Charles, Joshi, Rajiv Vasant, Kiewra, Edward William

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4

Dual-rie structure for via/line interconnections von KIEWRA EDWARD WILLIAM, JOSHI RAJIV VASANT, IGGULDEN ROY CHARLES, FEILD CHRISTOPHER ADAM

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5

Dual-RIE structure for via/line interconnections von Feild, Christopher Adam, Iggulden, Roy Charles, Joshi, Rajiv Vasant, Kiewra, Edward William

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Dual-RIE structure for via/line interconnections von KIEWRA EDWARD WILLIAM, JOSHI RAJIV VASANT, IGGULDEN ROY CHARLES, FEILD CHRISTOPHER ADAM

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7

Aluminum-based metallization exhibiting reduced electromigration and method therefor von GIGNAC LYNNE MARIE, HU CHAO-KUN, GAMBINO JEFFREY PETER, RODBELL KENNETH PARKER, IGGULDEN ROY CHARLES, WEBER STEFAN, SCHNABEL RAINER FLORIAN, FILIPPI RONALD GENE, CLEVENGER LAWRENCE ALFRED

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8

Aluminum-based metallization exhibiting reduced electromigration and method therefor von Clevenger, Lawrence Alfred, Filippi, Ronald Gene, Rodbell, Kenneth Parker, Iggulden, Roy Charles, Hu, Chao-Kun, Gignac, Lynne Marie, Weber, Stefan, Gambino, Jeffrey Peter, Schnabel, Rainer Florian

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9

MULTILAYER MICROELECTRONIC DEVICE AND ITS FORMING METHOD von ROY CHARLES IGGULDEN, WEBER STEPHAN, GAMBINO JEFFREY PETER, RODBELL KENNETH PARKER, RONALD JEAN PHILIPPI, LAWRENCE ALFRED CLEVENGER, LINN MARIE GIGNAC, CHAOKUN FUU, SCHNABEL RAINER FLORIAN

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