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METHOD OF FORMING MAGNETORESISTIVE MEMORY ELEMENT BASED ON TUNNEL JUNCTION AND STRUCTURE THEREOF
von
KLIMOV ALEKSANDR JUR'EVICH
,
KISELEV VLADIMIR KONSTANTINOVICH
,
ROGOV VLADIMIR VSEVOLODOVICH
,
FRAERMAN ANDREJ ALEKSANDROVICH
,
GUSEV SERGEJ ALEKSANDROVICH
,
KATSEV ALEKSANDR NIKOLAEVICH
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Patent
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MECHANICAL AND THERMODYNAMIC VALUES EMISSION METER
von
VOPILKIN EVGENIJ ALEKSANDROVICH
,
LAZAREV SERGEJ GRIGOR'EVICH
,
KLIMOV ALEKSANDR JUR'EVICH
,
SHASHKIN VLADIMIR IVANOVICH
,
VOSTOKOV NIKOLAJ VLADIMIROVICH
,
ROGOV VLADIMIR VSEVOLODOVICH
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Transporting
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Arrangements For Measuring Two Or More Variables Not Coveredin A Single Other Subclass
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Basic Electric Elements
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Electric Solid State Devices Not Otherwise Provided For
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Electricity
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Indicating Presence, Absence, Or Direction, Of Movement
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Manufacture Or Treatment Thereof
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Measuring
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Measuring Linear Or Angular Speed, Acceleration, Deceleration,Or Shock
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Measuring Not Specially Adapted For A Specific Variable
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Measuring Or Testing Not Otherwise Provided For
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Microstructural Devices Or Systems, E.g. Micromechanicaldevices
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Microstructural Technology
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Nanotechnology
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Semiconductor Devices
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Tariff Metering Apparatus
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Testing
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Erscheinungsjahr
Von:
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Esp@Cenet
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