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METHOD TO MANUFACTURE STEPPED ALTITUDE CALIBRATION STANDARD FOR PROFILOMETRY AND SCANNING PROBE MICROSCOPY
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RODJAKINA EKATERINA EVGEN'EVNA
,
KOSOLOBOV SERGEJ SERGEEVICH
,
LATYSHEV ALEKSANDR VASIL'EVICH
,
SHCHEGLOV DMITRIJ VLADIMIROVICH
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METHOD FOR MANUFACTURING OF STEPPED ALTITUDE CALIBRATION STANDARD FOR PROFILOMETRY AND SCANNING PROBE MICROSCOPY
von
RODJAKINA EKATERINA EVGEN'EVNA
,
KOSOLOBOV SERGEJ SERGEEVICH
,
LATYSHEV ALEKSANDR VASIL'EVICH
,
SHCHEGLOV DMITRIJ VLADIMIROVICH
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Patent
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METHOD OF MAKING STEPPED ELEVATION CALIBRATION STANDARD FOR PROFILOMETRY AND SCANNING PROBE MICROSCOPY
von
RODJAKINA EKATERINA EVGEN'EVNA
,
KOSOLOBOV SERGEJ SERGEEVICH
,
LATYSHEV ALEKSANDR VASIL'EVICH
,
SHCHEGLOV DMITRIJ VLADIMIROVICH
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Esp@Cenet
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