Suchergebnisse - REDINGER DAVID H

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Lifetime Modeling of ZnO Thin-Film Transistors von Redinger, D H

Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices

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Low-Cost Displays-Semiconductor and Lithographic Performance Requirements von Redinger, David H, Schnobrich, Scott, Haase, Michael A

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The story of Big Creek / by David H. Redinger von Redinger, David H

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The story of Big Creek von Redinger, David H

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Temperature-corrected control data for verifying of structural integrity of materials von Redinger, David H

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TEMPERATURE-CORRECTED CONTROL DATA FOR VERIFYING OF STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS von Redinger, David H

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Temperature-corrected control data for verifying of structural integrity of materials von Redinger, David H

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TEMPERATURE-CORRECTED CONTROL DATA FOR VERIFYING OF STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS von Redinger, David H

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TEMPERATURE-CORRECTED CONTROL DATA FOR VERIFYING OF STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS von REDINGER, David H

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Suppressing thermally induced voltages for verifying structural integrity of materials von Schumacher, Jennifer F, Redinger, David H, Yungers, Christopher R

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VERIFYING STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS USING REFERENCE IMPEDANCE von YUNGERS, Christopher R, FALKNOR, Subhalakshmi M, REDINGER, David H

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Verifying structural integrity of materials von Redinger, David H, Yungers, Christopher R, Falknor, Subhalakshmi M

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VERTICALLY HANGING CULTIVATION SYSTEM von OIEN-ROCHAT, Milo G, MORRISSEY, David L, FALKNOR, Subhalakshmi M, REDINGER, David H, ARTHUR, Jonathan B

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VERIFYING STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS von REDINGER, David, H, YUNGERS, Christopher, R, FALKNOR, Subhalakshmi, M

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SUPPRESSING THERMALLY INDUCED VOLTAGES FOR VERIFYING STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS von Schumacher, Jennifer F, Redinger, David H, Yungers, Christopher R

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Verifying structural integrity of materials using reference impedance von Redinger, David H, Yungers, Christopher R, Falknor, Subhalakshmi M

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Suppressing thermally induced voltages for verifying structural integrity of materials von Schumacher, Jennifer F, Redinger, David H, Yungers, Christopher R

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Electrode placement for verifying structural integrity of materials von Chinnock, Eric M, Schumacher, Jennifer F, Redinger, David H, Yungers, Christopher R

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VERIFYING STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS von Redinger, David H, Yungers, Christopher R, Falknor, Subhalakshmi M

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Verifying structural integrity of materials von Redinger, David H, Yungers, Christopher R, Falknor, Subhalakshmi M

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Lifetime Modeling of ZnO Thin-Film Transistors von Redinger, D H

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The story of Big Creek / by David H. Redinger von Redinger, David H

The story of Big Creek von Redinger, David H

Temperature-corrected control data for verifying of structural integrity of materials von Redinger, David H

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Suppressing thermally induced voltages for verifying structural integrity of materials von Schumacher, Jennifer F, Redinger, David H, Yungers, Christopher R

VERIFYING STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS USING REFERENCE IMPEDANCE von YUNGERS, Christopher R, FALKNOR, Subhalakshmi M, REDINGER, David H

Verifying structural integrity of materials von Redinger, David H, Yungers, Christopher R, Falknor, Subhalakshmi M

VERTICALLY HANGING CULTIVATION SYSTEM von OIEN-ROCHAT, Milo G, MORRISSEY, David L, FALKNOR, Subhalakshmi M, REDINGER, David H, ARTHUR, Jonathan B

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SUPPRESSING THERMALLY INDUCED VOLTAGES FOR VERIFYING STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS von Schumacher, Jennifer F, Redinger, David H, Yungers, Christopher R

Verifying structural integrity of materials using reference impedance von Redinger, David H, Yungers, Christopher R, Falknor, Subhalakshmi M

Suppressing thermally induced voltages for verifying structural integrity of materials von Schumacher, Jennifer F, Redinger, David H, Yungers, Christopher R

Electrode placement for verifying structural integrity of materials von Chinnock, Eric M, Schumacher, Jennifer F, Redinger, David H, Yungers, Christopher R

VERIFYING STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS von Redinger, David H, Yungers, Christopher R, Falknor, Subhalakshmi M

Verifying structural integrity of materials von Redinger, David H, Yungers, Christopher R, Falknor, Subhalakshmi M

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