Treffer
1 - 4
von
4
für Suche '
RATSCHER, KAI
'
Weiter zum Inhalt
VuFind
Zwischenablage:
0
in der Auswahl
(Voll)
Anmeldung über Ihre Einrichtung
Bootstrap
Reg_test
TUM
GatewayBayern
Rvk
reg_uni
Standard Theme
Mobile Theme
thws
Layout
Englisch
Deutsch
Sprache
OPAC
OPACplus
Stichwort
Titel
Verfasser
Schlagwort
Suchen
Erweitert
Suchergebnisse - RATSCHER, KAI
Treffer
1 - 4
von
4
für Suche '
RATSCHER, KAI
'
, Suchdauer: 0,32s
Treffer weiter einschränken
Sortieren
Relevanz
Nach Datum, absteigend
Verfasser
Titel
1
Stage insert, microscope system, apparatus, method and computer program
von
BELJAN, METTE
,
RATSCHER, KAI
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
2
Control system and method for determining illumination intensity in fluorescence microscope and corresponding microscope system
von
SCHUMANN CHRISTIAN
,
RATSCHER, KAI
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
3
Control device for microscope
von
KIEL OLIVER
,
RATSCHER, KAI
,
SCHACHT VOLKER
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
4
Multispectral microscopy system and method for registering first image and second image by same
von
SCHUMANN CHRISTIAN
,
BELJAN, METTE
,
RATSCHER, KAI
Volltext bestellen
Patent
In die Zwischenablage
Aus der Zwischenablage entfernen
Zu den Favoriten
Gespeichert in:
Suchwerkzeuge:
RSS-Feed abonnieren
Diese Suche als E-Mail versenden
Suche speichern
Zurück
Treffer weiter einschränken
Seite wird neu geladen, wenn Filter aktiviert oder ausgeschlossen wird.
Eingrenzen
Online Resources
4 Treffer
4
Format
Patents
4 Treffer
4
Schlagworte
Physics
4 Treffer
4
Optical Elements, Systems, Or Apparatus
3 Treffer
3
Optics
3 Treffer
3
Calculating
1 Treffer
1
Computing
1 Treffer
1
Counting
1 Treffer
1
Image Data Processing Or Generation, In General
1 Treffer
1
Investigating Or Analysing Materials By Determining Theirchemical Or Physical Properties
1 Treffer
1
Measuring
1 Treffer
1
Testing
1 Treffer
1
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Esp@Cenet
4 Treffer
4