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METHOD FOR REDUCING FEATURE LINE EDGE ROUGHNESS
von
RASGON STACY A
,
MAHOROWALA ARPAN P
,
BELL SCOTT A
,
YAN HONGWEN
,
YANG CHIH-YUH
,
MURTHY S. DAKSHINA
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Patent
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2
Effect of thin-film imaging on line edge roughness transfer to underlayers during etch processes
von
Goldfarb, Dario L.
,
Mahorowala, Arpan P.
,
Gallatin, Gregg M.
,
Petrillo, Karen E.
,
Temple, Karen
,
Angelopoulos, Marie
,
Rasgon, Stacy
,
Sawin, Herbert H.
,
Allen, Scott D.
,
Lawson, Margaret C.
,
Kwong, Ranee W.
Veröffentlicht in
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures
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Investigation of surface roughening of low- k films during etching using fluorocarbon plasma beams
von
Yin, Yunpeng
,
Rasgon, Stacy
,
Sawin, Herbert H.
Veröffentlicht in
Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena
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Journal Of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics And Nanometer Structures Processing, Measurement, And Phenomena
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Journal Of Vacuum Science & Technology. B, Microelectronics And Nanometer Structures Processing, Measurement And Phenomena
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Journal Of Vacuum Science And Technology. B, Nanotechnology & Microelectronics
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Journal Of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics And Nanometer Structures
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