-
1
-
2
-
3
-
4
Scaling the Si MOSFET: from bulk to SOI to bulk
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
5
-
6
-
7
-
8
-
9
-
10
Toward giga-scale silicon integrated circuits
Veröffentlicht in AT&T Technical Journal
VolltextArtikel -
11
-
12
-
13
-
14
-
15
-
16
Device noise in silicon RF technologies
Veröffentlicht in Bell Labs technical journal
VolltextArtikel -
17
-
18
-
19
Direct measurement of base drift field in bipolar transistors
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
20