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Back side optical beam induced current method for the localization of electric field enhancements in edge termination structures of power semiconductor devices
von
Soelkner, Gerald
,
Kreutle, Johannes
,
Quincke, Jörg
,
Kaindl, Winfried
,
Wachutka, Gerhard
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Microelectronics and reliability
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Analysis of latch-up neighborhood effects in VLSI CMOS input and output stages
von
Quincke, Jörg
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Microelectronics and reliability
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PROCESS FOR INVESTIGATING THE LATCH-UP EXTENSION IN CMOS CIRCUITS
von
QUINCKE, JORG
,
PLIES, ERICH.NAT
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PROCESS FOR INVESTIGATING THE LATCH-UP EXTENSION IN CMOS CIRCUITS
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QUINCKE, JORG
,
PLIES, JORG NAT
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Process for investigating the latch-up extension in CMOS circuits
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QUINCKE, JORG
,
PLIES, ERICH.NAT
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Process for investigating the latch-up extension in CMOS circuits
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QUINCKE, JORG
,
PLIES, JORG NAT
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Sd College Edition Journals Collection - Physical Sciences [Scps]
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