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Amélioration de la robustesse des microcontrôleurs STM32 soumis à un stress en impulsion par contrôle de leur réponse
von
Quazzo, Lorenzo
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Dissertation
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Integrated Circuit Robustness Improvement Analysis, Modeling and Measurement Against Fast Transient Burst Events
von
Quazzo, Lorenzo
,
Jacquemod, Gilles
,
Froidevaux, Nicolas
,
Braquet, Henri
Veröffentlicht in
IEEE electromagnetic compatibility magazine
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