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Small-Signal Characterization and Modeling of 55 nm SiGe BiCMOS HBT up to 325 GHz
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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Hot-Carrier Stress Effect on a CMOS 65-nm 60-GHz One-Stage Power Amplifier
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Small-signal characterization and modelling of 55nm SiGe BiCMOS HBT up to 325GHz
Veröffentlicht in Solid-state electronics
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High-Q MOS Varactors for Millimeter-Wave Applications in CMOS 28-nm FDSOI
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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