Fitspy: A Python package for spectral decomposition von Quéméré, Patrick

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Electron beam propagation impact on high-resolution quantitative chemical analysis of GaN/AlGaN 1 nm-thick quantum wells von Castioni, Florian, Cuesta, Sergi, Quéméré, Patrick, Robin, Eric, Delaye, Vincent, Monroy, Eva, Bayle-Guillemaud, Pascale, Bernier, Nicolas

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Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy–High‐Angle‐Annular Dark‐Field Study of the Structure of Pseudo‐2D Sb2Te3 Films Grown by (Quasi) Van der Waals Epitaxy... von Sever, Vitomir, Bernier, Nicolas, Térébénec, Damien, Sabbione, Chiara, Paterson, Jessy, Castioni, Florian, Quéméré, Patrick, Jannaud, Audrey, Rouvière, Jean‐Luc, Roussel, Hervé, Raty, Jean‐Yves, Hippert, Françoise, Noé, Pierre

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PyStack3D: A python package for fast image stack correction von Quéméré, Patrick, David, Thomas

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Combining Atomic-Scale EDX with Inelastic Multislice Simulations for Quantitative Chemical Analysis of AlGaN/GaN 1 nm-thick Quantum Wells von Castioni, Florian, Cuesta, Sergi, Bernier, Nicolas, Quéméré, Patrick, Robin, Eric, Delaye, Vincent, Monroy, Eva, Bayle-Guillemaud, Pascale

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Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy–High‐Angle‐Annular Dark‐Field Study of the Structure of Pseudo‐2D Sb 2 Te 3 Films Grown by (Quasi) Van der Waals Epitaxy... von Sever, Vitomir, Bernier, Nicolas, Térébénec, Damien, Sabbione, Chiara, Paterson, Jessy, Castioni, Florian, Quéméré, Patrick, Jannaud, Audrey, Rouvière, Jean‐Luc, Roussel, Hervé, Raty, Jean‐Yves, Hippert, Françoise, Noé, Pierre

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A new multi-domain/multi-resolution method for large-eddy simulation von Quéméré, Patrick, Sagaut, Pierre, Couailler, Vincent

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Rigorous Model-Based Mask Data Preparation Algorithm Applied to Grayscale Lithography for the Patterning at the Micrometer Scale von Chevalier, Pierre, Quemere, Patrick, Berard-Bergery, Sebastien, Henry, Jean-Baptist, Beylier, Charlotte, Vaillant, Jerome

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Supplement Number 1 von Valloire, Hugo, Quéméré, Patrick, Vaxelaire, Nicolas, Kuentz, Hugo, Le Rhun, Gwenael, BOROWIK, Lukasz

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METHOD FOR CHARACTERISATION BY CD-SEM SCANNING ELECTRON MICROSCOPY von QUEMERE, Patrick, HAZART, Jérôme

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Procédé et dispositif de calcul automatique de motif élémentaire dans une image numérique représentative de grandeurs physiques comportant une répétition périodique de motifs... von QUEMERE, Patrick

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METHOD AND DEVICE FOR AUTOMATICALLY CALCULATING ELEMENTARY PATTERN IN A DIGITAL IMAGE REPRESENTATIVE OF PHYSICAL QUANTITIES COMPRISING A PERIODIC REPETITION OF PATTERNS von QUEMERE, Patrick

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Procédé et dispositif de calcul automatique de motif élémentaire dans une image numérique représentative de grandeurs physiques comportant une répétition périodique de motifs... von QUEMERE, Patrick

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Procédé d'indexation des motifs atomiques d'une structure cristalline et produit programme d'ordinateur von QUEMERE, Patrick

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METHOD FOR INDEXING ATOMIC PATTERNS OF CRYSTAL STRUCTURE AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT von QUEMERE, Patrick

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Method for implementing a CD-SEM characterisation technique von Hazart, Jérôme, Quemere, Patrick

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METHOD FOR IMPLEMENTING A CD-SEM CHARACTERISATION TECHNIQUE von QUEMERE, Patrick, HAZART, Jérôme

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Method for characterisation by CD-SEM scanning electronic microscopy von Hazart, Jérôme, Quemere, Patrick

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METHOD FOR CHARACTERISATION BY CD-SEM SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPY von QUEMERE, Patrick, HAZART, Jérôme

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