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Accuracy Limitations in Long-Trace Profilometry
Veröffentlicht in AIP conference proceedings
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Portable long trace profiler: Concept and solution
Veröffentlicht in Review of scientific instruments
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Global High-Accuracy Intercomparison of Slope Measuring Instruments
Veröffentlicht in AIP conference proceedings
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The optical metrology laboratory of the Sincrotrone trieste
Veröffentlicht in Synchrotron radiation news
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